Towards a fault-tolerant universal set of microwave driven quantum gates with trapped ions
ORAL
Abstract
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Publication: [1] E. Knill et al., Nature 434, 39-44 (2005)<br>[2] C. Ospelkaus et al., Phys. Rev. Lett. 101 090502 (2008)<br>[3] G. Zarantonello et al., Phys. Rev. Lett. 123 260503 (2019)
Presenters
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Ludwig Krinner
Leibniz Universität Hannover, Physikalisch Technische Bundesanstalt Braunschweig
Authors
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Ludwig Krinner
Leibniz Universität Hannover, Physikalisch Technische Bundesanstalt Braunschweig
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Nicolas Pulido
Leibniz Universität Hannover, Physikalisch Technische Bundesanstalt Braunschweig
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Markus Duwe
Leibniz Universität Hannover, Physikalisch Technische Bundesanstalt Braunschweig
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Hardik Mendpara
Leibniz Universität Hannover, Physikalisch Technische Bundesanstalt Braunschweig
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Amado Bautista-Salvador
Leibniz Universität Hannover, Physikalisch Technische Bundesanstalt Braunschweig
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Giorgio Zarantonello
National Institute of Standards and Technology
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Christian Ospelkaus
Leibniz Universität Hannover, Physikalisch Technische Bundesanstalt Braunschweig, Leibniz University Hannover and Physikalisch Technische Bundesanstalt